老師需要觀察被腐蝕的銅制材料中是否存在類六邊形狀芯片構(gòu)造，主要樣品是被腐蝕過的銅片

解決方案：

老師需要觀察銅片，推薦明美金相顯微鏡MJ33，此款顯微鏡是一種多用途工業(yè)檢驗用光學(xué)儀器，配置明/暗場物鏡、大視野目鏡與偏光觀察裝置，透反射照明采用“柯勒”照明系統(tǒng)，視場清晰。可用于半導(dǎo)體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉沫及其它各種透明或不透明工業(yè)試樣的檢驗，是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子工程學(xué)等研究的理想儀器。另外老師對分辨率要求高，推薦明美新款顯微鏡相機MSX11，這款相機2100萬超高分辨率，4/3英寸大靶面芯片，大視野高效采集，是熒光拍攝、病理診斷、金相分析和體視觀察等應(yīng)用領(lǐng)域的理想工具。

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